探針是電測試的接觸媒介，為高端精密型電子五金元器件。
生物方面
探針是一小段單鏈DNA或者RNA片段（大約是20到500bp），用於檢測與其互補的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨後用放射性同位素（通常用磷-32）、熒光染料或者酶（如辣根過氧化物酶）標記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價鍵相連。
當將探針與樣品雜交時，探針和與其互補的核酸（DNA或RNA）序列通過氫鍵緊密相連，隨後，未被雜交的多餘探針被洗去。最後，根據探針的標記物種類，可進行放射自顯影、熒光發光、酶聯化學發光等方法來判斷樣品中是否，或者何位置含有被測序列（即與探針互補的序列）。
電腦方面
一種Web 腳本程序，實質上是通過網頁編程語言（ASP、PHP、ASP.NET等）實現探測服務器敏感信息的腳本文件，通常用於探測網站目錄、服務器操作系統、CPU數量、Session超時時間、服務器Session變量、服務器Application變量、組件支持情況、運算速度、磁盤讀寫速度以及網絡連接速度等。
測試方面
測試針，用於測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的生產廠家有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質：W，ReW,CU、 A+
1.主要採用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，並且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
探針分類
探針根據電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；
B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件後的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；
C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環氧樹脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1.ICT探針（ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用於在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目應用較多的一種探針．
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數做大型測試機台的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用於測試機台與測試夾具的接觸點和麵．
3.微型探針（MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4.開關探針（Switch Probes)
開關探針單獨一支探針有兩路電流．
5.高頻探針（Coaxial Probes)
用於測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6.旋轉探針（Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用於OSP處理過的PCBA測試．
7.高電流探針（High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針(Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大於10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針(Battery and Connector Contacts)
一般用於優化接觸效果，穩定性好和壽命長．
10.汽車線束測試測試探針
專業用於汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用．
